در ادامه روند توسعه وبه روز رسانی استاندارد های ملی در حوزه فناوری نانو دو استاندارد جدید با هدف تقویت زیر ساخت های علمی وصنعتی این حوزه تدوین منتشر شد.
به گزارش مرکز ارتباطات و اطلاع رسانی معاونت علمی وفناوری واقتصاد دانش بنیان ریلست جمهوری دو استاندارد « راهنمای اندازه گیری غلظت عددی نانو ذرات » و « گوشش های تبدیلی نانومقیاس » موفق به اخذ مصوبه از کمیته ملی استاندارد شدند.
راهنمای اندازه گیری غلظت عددی نانو ذرات
این استاندارد مروی بر روش های مورد استفاده برای تعیین غلطت عددی نانو ذرات در پراکنه های مایع و هواسل ارائه می کند.روش های توصیف شده شامل مجموعه ای ترکیبی از روش های اندازه گیری ، از ته نشینی مرکز گریز تفاضلی (DCS)، پراکندگی پویای نور چند زاویه ای )MDLS)، پراکندگی پرتوایکس زاویه کوچک (SAXL) و طیف سنجی فرابنفش مرئی (UV-VIS) گرفته تا روش های شمارش ذرات شامل آنالیز رد گیری ذرات (PTA) ،حسگر مقاومت تپ پی (RPS) ، طیف سنجی پلاسمای جفت شده القلیی تک ذره ای (SPICP) ،شمارنده ذرات متراکم (CPC) ،وسامانه تحلیل نحرک تفاضلی (DMAS) است. این روش ، به همراه ملاحظاتی برای آماده سازی نمونه،مزایا ومحدودیت ها را ارائه می کند.
پوشش های تبدیلی نانومقیاس
هدف از تدوین این استاندارد ، ارائه روش های آزمون برای مشخصه یابی و تعیین ویژگی های عملکردی پوشش های تبدیلی بر پایه فناوری نانو است. این استاندارد برای انواع پوشش های تبدیلی شامل پوشش ها با ضخامت در مقیاس نانو پوشش های نانو ساختاری و یا پوشش های با حداقل یک جزء نانو متری کاربرد دارد .
